Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Zistiť stav objednávky

Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod. Založiť účet zdarma

Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €

Kuriér DPD 2.99 € Zberné miesto GLS 2.99 € SPS 3.99 € Kuriér GLS 3.49 € SPS Parcel Shop 2.99 € Packeta kurýr 3.99 € Pošta 3.99 € Zberné miesto DPD 2.99 € Zberné miesto DPD 0.00 € Packeta 2.99 €

Kontakt

Ako nakupovať

Pomoc

Môj účet

▸ Prázdny :-(

Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications

Name: Spectroscopic Ellipsometry - Principles and Applications
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 04878436
Price: 203.16 EUR
Availability: InStock
Author: Hiroyuki Fujiwara
ISBN: 9780470016084

Hiroyuki Fujiwara

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 04878436

Nakladateľstvo John Wiley & Sons Inc, január 2007

Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semicond... Celý popis

Libristo kód: 04878436

491 b

203.16 €

Skladom u dodávateľa Odosielame za 10-18 dní

30 dní na vrátenie tovaru

Zákazníci tiež kúpili

Optical Properties of Solids Mark Fox

Brožovaná

57.62 €

Oxford Solid State Basics Steven H Simon

Brožovaná

52.05 €

Condensed Matter Physics 2e Michael P. Marder

Pevná

169.74 €

Optical Coherence and Quantum Optics Leonard Mandel

Pevná

131.25 €

Basic Aspects of the Quantum Theory of Solids Daniel Khomskii

Pevná

74.53 €

Bambini di Praga 1947 Bohumil Hrabal

Audio CD

4.55 €

Im Restaurant Christoph Ribbat

Brožovaná

10.93 €

Sinner's Gin (Francais) Rhys Ford

Brožovaná

15.39 €

Pajkos manók

Leporelo

3.84 €

Die Spur des Goldenen Blutes Gabriela Bock

Brožovaná

13.16 €

Hunter X Hunter Peyron

Kniha

36.76 €

Die Juden Gotthold E. Lessing

Brožovaná

5.26 €

Mercedes-Benz A-Klasse ab Modelljahr 2004 Dieter Korp

Brožovaná

29.46 €

Griechische Religion der archaischen und klassischen Epoche Walter Burkert

Pevná

115.65 €

Enderova hra Orson Scott Card

Pevná

16.50 €

Parson und Jack Russell Terrier Dorothea Penizek

Brožovaná

13.56 €

The Nice House On The Lake tome 2 TYNION IV James

Pevná

27.03 €

Fra Angelico, pittore-teologo del vangelo Giuseppe Damigella

Pevná

66.84 €

Ultimate Yes-35th Anniversary Yes

Audio CD

9.71 €

Los cristales de humo. la poesía de María Victoria Atencia López Martínez

Brožovaná

18.22 €

Derecho Procesal Administrativo (Procedimiento Contencioso Administrativo Federal) Delgado King

Brožovaná

29.77 €

Little niño descubre a ELVIS DANI LLABRES

Pevná

19.03 €

VOIES MULTIPLES DE LA DIDACTIQUE DU FRANCAIS HAMDANI/ELGHAZI Kniha

Brožovaná

29.87 €

Já a ty

Pevná

8.50 €

Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.