Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Zistiť stav objednávky

Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod. Založiť účet zdarma

Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €

Kuriér DPD 2.99 € SPS 3.99 € SPS Parcel Shop 2.99 € Packeta kurýr 3.99 € Pošta 3.99 € Zberné miesto DPD 2.99 € Zberné miesto DPD 0.00 € Kuriér GLS 3.99 € Zberné miesto GLS 2.49 € Packeta 2.99 €

Kontakt

Ako nakupovať

Pomoc

Môj účet

▸ Prázdny :-(

Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Scanning Electron Microscopy

Name: Scanning Electron Microscopy
Brand: NY RESEARCH PRESS
SKU: 12434612
Price: 127.0 EUR
Availability: InStock
Author: Lisa Page
ISBN: 9781632384065

Lisa Page

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 12434612

Nakladateľstvo NY RESEARCH PRESS, marec 2015

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments empl... Celý popis

Libristo kód: 12434612

307 b

127.00 €

50 % šanca Prehľadáme celý svet Kedy knihu dostanem?

30 dní na vrátenie tovaru

Zákazníci tiež kúpili

TOUT VA BIEN SE PASSER BRAMI

Brožovaná

16.09 €

Procédures fiscales Thierry Lambert

Brožovaná

56.51 €

Le Programmeur pragmatique Andrew Hunt

Brožovaná

44.96 €

Arbeiter Im Volkswagenwerk Im Dritten Reich Tanja Schwabe

Brožovaná

17.11 €

Porträt des Meisters in mittleren Jahren Colm Toibin

Brožovaná

15.89 €

Un dulce rubor Gil Benítez

Brožovaná

26.73 €

La valse de l'adieu Philippe de Villiers

Brožovaná

28.65 €

Pilates per la riabilitazione. Recuperare dagli infortuni e ottimizzare la funzionalità Samantha Wood

Brožovaná

40.71 €

Mytologická zvířata Tam O'Malleyová

Pevná

7.48 €

Zwingli Aimé Richardt

Brožovaná

23.49 €

L'arabe langue vivante Volume 3 Hamida Atoui

Kniha

21.16 €

Mein amerikanischer alpTraum Karl-Heinz Bergbauer

Pevná

20.75 €

Abfindungsorientierte Kuendigungsschutzmodelle Matthias Sandmaier

Brožovaná

62.89 €

Traite Pratique de Magnetisme Humain, Ou Resume de Tous Les Principes Et Procedes Du Magnetisme ROUGET-F

Brožovaná

17.51 €

Fine focused electron and ion beams constitute(s) an inevitable part of methods and instruments employed in various science fields. SEMs are well instrumented and supplemented with advanced techniques and methods and thereby present endless possibilities in the areas of quantitative measurement of object topologies, surface imaging, performing elemental analysis and local electrophysical characteristics of semiconductor structures. Creation of micro and nanostructures involves extensive use of fine focused e-beam. This book focuses on various issues concerned with scanning electron microscopy, covering both theoretical and practical aspects. Numerous topics are organized under two sections, "Material Science" and "Nanostructured Materials for Electronic Industry". This book includes contributions by renowned researchers and experts in this field.