Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Zistiť stav objednávky

Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod. Založiť účet zdarma

Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €

Kuriér DPD 2.99 € Zberné miesto GLS 2.49 € SPS 3.99 € SPS Parcel Shop 2.99 € Packeta kurýr 3.99 € Pošta 3.99 € Zberné miesto DPD 2.99 € Kuriér GLS 3.99 € Packeta 2.99 €

Kontakt

Ako nakupovať

Pomoc

Môj účet

▸ Prázdny :-(

Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Name: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
Brand: Cambridge University Press
SKU: 02032669
Price: 162.31 EUR
Availability: InStock
Author: Zhong Lin Wang
ISBN: 9780521482660

Zhong Lin Wang

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 02032669

Nakladateľstvo Cambridge University Press, máj 1996

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), refl... Celý popis

Libristo kód: 02032669

392 b

162.31 €

Skladom u dodávateľa Odosielame za 9-15 dní

30 dní na vrátenie tovaru

Zákazníci tiež kúpili

Zeit des Erwachens Ralf Werner Steinen

Brožovaná

9.00 €

Marokko - Reiseschilderungen Siegfried Genthe

Brožovaná

35.74 €

Code de procédure civile 2026 Loïc Cadiet

Pevná

44.85 €

Boy's Abyss 03 Nana Umino

Brožovaná

7.58 €

Erkundung von Open Source-Softwarelokalisierung Methoden Yurek K Hinz

Brožovaná

43.84 €

Los Programas de Diversificación Curricular. Gómez Castro

Brožovaná

7.28 €

FRANGULLA SANCHEZ

Brožovaná

10.62 €

El Gallego y su cuadrilla CELA

Kniha

18.52 €

DREI ANTIKE GESANGE GEWV 50 HARALD GENZMER

Noty

41.81 €

Omnivore Food Book - numéro 12 Luc Dubanchet

Brožovaná

25.10 €

Arthur Schopenhauer: Lichtstrahlen Aus Seinen Werken (1867) Julius Frauenstadt

Pevná

41.81 €

Arabischen Sprachführer in ägyptischem Dialect

Pevná

119.28 €

Preussen, Weimar Und Die Ungarische Koenigskrone Robert Gragger

Pevná

119.28 €

MEMORIAS ULYSSES S. GRANT

Pevná

27.13 €

Formulierungshilfen fur die Strukturierte Informationssammlung SIS und Massnahmenplanung Mathias Berger

Brožovaná

18.01 €

Mitteilungen UEber Forschungsarbeiten Fritz Holm

Brožovaná

53.15 €

Einsterns Schwester - Erstlesen - Zu allen Ausgaben - 1. Schuljahr Wilfried Metze

Brožovaná

10.22 €

Michel Kohlhaas, Le Marchand de Chevaux: Et Autres Contes Tome 2 Von Kleist-H

Brožovaná

19.33 €

Un jeu peut-il transmettre un message engagé ? Arnaud Pincemaille

Brožovaná

32.09 €

Das verrückte Labyrinth, 30 Jahre Jubiläumsedition Max J. Kobbert

Hra

37.05 €

Politik Fur Bibliotheken Georg Ruppelt

Pevná

119.28 €

Complete Works of Voltaire Voltaire

Pevná

165.35 €

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.