Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Zistiť stav objednávky

Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod. Založiť účet zdarma

Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €

Kuriér DPD 2.99 € Zberné miesto GLS 2.49 € SPS 3.99 € SPS Parcel Shop 2.99 € Packeta kurýr 3.99 € Pošta 3.99 € Zberné miesto DPD 2.99 € Kuriér GLS 3.99 € Packeta 2.99 €

Kontakt

Ako nakupovať

Pomoc

Môj účet

▸ Prázdny :-(

Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

$Kniha Quantitative X-Ray Diffractometry Giora Kimmel$

Quantitative X-Ray Diffractometry

Name: Quantitative X-Ray Diffractometry
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 06624110
Price: 103.1 EUR
Availability: InStock
Author: Giora Kimmel
ISBN: 9781461395379

Giora Kimmel

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

$Kniha Quantitative X-Ray Diffractometry Giora Kimmel$

Libristo kód: 06624110

Nakladateľstvo Springer-Verlag New York Inc., december 2011

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray dif... Celý popis

Libristo kód: 06624110

249 b

103.10 €

Skladom u dodávateľa Odosielame za 5-8 dní

30 dní na vrátenie tovaru

Zákazníci tiež kúpili

Las sendas de Allah : las cofradías musulmanas desde sus orígenes hasta la actualidad Alexandre Popovic

Brožovaná

37.36 €

Uso responsable de las redes sociales entre los adolescentes: Vera Mnguershima Akem

Brožovaná

39.29 €

Kudrnatá příručka Renata Stiborová

Pevná

12.24 €

Cómo convertirse en un cristiano verdadero: ?Qué significa ser salvo e ir al cielo? Charlie Avila

Brožovaná

9.81 €

Adelante GUIRUD

Kniha

28.05 €

Frauenhandel und Zwangsprostitution in Deutschland Jessica Bangisa

Brožovaná

16.20 €

Erfahrung und Theorie Stephan Körner

Pevná

25.61 €

Lasst sich die Todesstrafe rechtfertigen? Natalia Bokova

Brožovaná

16.20 €

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.