Nehodí sa? Žiadny problém! Tovar môžete vrátiť až do 30 dní
S darčekovým poukazom nešliapnete vedľa. Obdarovaný si za darčekový poukaz môže vybrať čokoľvek z našej ponuky.
Až 30 dní na vrátenie tovaru
This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.
Ahoj! Som Libroamiko, tvoj knižný radca.
Ako ti môžem pomôcť?