Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Zistiť stav objednávky

Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod. Založiť účet zdarma

Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €

Kuriér DPD 2.99 € Zberné miesto GLS 2.49 € SPS 3.99 € SPS Parcel Shop 2.99 € Packeta kurýr 3.99 € Slovenská pošta 3.99 € Zberné miesto DPD 2.99 € Kuriér GLS 3.99 € Packeta 2.99 €

Kontakt

Ako nakupovať

Pomoc

Môj účet

▸ Prázdny :-(

Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Name: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Brand: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
SKU: 13595194
Price: 158.71 EUR
Availability: InStock
Author: Pierre-Richard Dahoo
ISBN: 9781848219366

Pierre-Richard Dahoo

Philippe Pougnet

Abdelkhalak El Hami

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 13595194

Nakladateľstvo ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, august 2016

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...

Libristo kód: 13595194

384 b

158.71 €

Skladom u dodávateľa v malom množstve Odosielame za 11-15 dní

Až 30 dní na vrátenie tovaru

Zákazníci tiež kúpili

de la Reduction Des Cinq Pour Cent, Et de la Facilite d'Acquitter Les Dettes Sans Auteur

Brožovaná

13.02 €

Parménides César Aira

Brožovaná

19.29 €

Des Innovations Dangereuses En Homoeopathie Alexis Espanet

Pevná

25.55 €

Die Naturkräfte in Den Alpen Oder Physikalische Geographie Des Alpengebirges Friedrich Pfaff

Pevná

289.95 €

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.