Kontakt
Ako nakupovať
Doručenie
Nákupný poradca
Angličtina
118 b
Až 30 dní na vrátenie tovaru
Zákazníci tiež kúpili
/
Brožovaná
9.98
€
/
Brožovaná
68.28
€
/
Brožovaná
70.09
€
/
Brožovaná
11.29
€
Electromigration is a microscopic phenomenon §involving electric field-induced diffusion, which is §very relevant to damage in interconnections. A §common method for monitoring interconnection §degradation is through electrical resistance §measurements, which requires direct electrical §contact. It is desirable to develop non-contact §methods to monitor electromigration damage §formation. In this thesis, we propose a novel §Optical Microscopy Imaging Method (OMIM), and we §provide a theoretical description and experimental §results. OMIM not only provides a new method for §studying electromigration, but also provides a §useful method for studying other micro-devices and §materials in a non- contact mode.
Informácie o knihe
Angličtina
Kategórie
Darujte túto knihu ešte dnes
Je to jednoduché
1 Pridajte knihu do košíka a vyberte možnosť doručiť ako darček 2 Obratom Vám zašleme poukaz 3 Knihu zašleme na adresu obdarovanéhoMohlo by vás tiež zaujímať
/
Brožovaná
31.06
€
/
Brožovaná
17.34
€
/
Brožovaná
8.06
€
/
Brožovaná
13.81
€
Ahoj! Som Libroamiko, tvoj knižný radca.
Ako ti môžem pomôcť?