Nehodí sa? Žiadny problém! Tovar môžete vrátiť až do 30 dní
S darčekovým poukazom nešliapnete vedľa. Obdarovaný si za darčekový poukaz môže vybrať čokoľvek z našej ponuky.
Až 30 dní na vrátenie tovaru
Atomic Force Microscopy (AFM) measures the forces between a tip and the substrate and maps the substrate surface topography and properties based on the measurement of tip-substrate interactions. This volume contains the papers on AFM techniques.
Ahoj! Som Libroamiko, tvoj knižný radca.
Ako ti môžem pomôcť?