Nehodí sa? Žiadny problém! Tovar môžete vrátiť až do 30 dní
S darčekovým poukazom nešliapnete vedľa. Obdarovaný si za darčekový poukaz môže vybrať čokoľvek z našej ponuky.
Až 30 dní na vrátenie tovaru
Covers several important topics in the field of scanning probe microscopy. These include a realistic theory of atom-resolving atomic force microscopy (AFM), fundamentals of MBE growth of III-V compound semiconductors, and more. This book is of interest to those involved in using scanning probe microscopy.
Ahoj! Som Libroamiko, tvoj knižný radca.
Ako ti môžem pomôcť?