Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Zistiť stav objednávky

Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod. Založiť účet zdarma

Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €

Kuriér DPD 2.99 € Kuriér GLS 3.99 € Zberné miesto GLS 2.49 € SPS 3.99 € SPS Parcel Shop 2.99 € Packeta kurýr 3.99 € Slovenská pošta 3.99 € Zberné miesto DPD 2.99 € Packeta 2.99 €

Kontakt

Ako nakupovať

Pomoc

Môj účet

▸ Prázdny :-(

Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy

Name: Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 01388456
Price: 65.05 EUR
Availability: InStock
Author: Rik Brydson
ISBN: 9780470518519

Rik Brydson

Jazyk

Angličtina

Kniha Pevná

Libristo kód: 01388456

Nakladateľstvo John Wiley & Sons Inc, september 2011

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron micros... Celý popis

Libristo kód: 01388456

158 b

65.05 €

Skladom u dodávateľa Odosielame za 14-21 dní

Až 30 dní na vrátenie tovaru

Zákazníci tiež kúpili

Larry Lauch zerstört alles (Band 3) Mick Elliott

Pevná

9.07 €

Kamil Bey Kemal Bekir

Brožovaná

8.16 €

LA MENTE DEL HACKER COMO REVERTIR LA SITUACION CUANDO LAS E SCHNEIER

Brožovaná

32.67 €

Versos Breves De La Vida Diaria Juan Moises De La Serna

Adobe ePub DRM

4.53 €

El Arbol De Las Cosquillas Francois Keyser

Adobe ePub DRM

2.91 €

Rebis ou le secret de l'alchimiste T2 - Le laboratoire Lobanov

Brožovaná

33.28 €

Tant qu'il y aura du rhum François Cérésa

Kniha

27.12 €

Counseling ai tempi del coronavirus

Brožovaná

17.84 €

Pepee Temali Aktivite Serisi - Ilkbahar Ayse sule Bilgic

Brožovaná

12.09 €

Prozess Galileis und die Jesuiten FRANZ HEINRI REUSCH

Brožovaná

28.43 €

Schachaufgaben Fur Kids Murray Chandler

Pevná

21.68 €

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology. This book is essential for microscopists involved in nanoscale and materials microanalysis especially those using scanning transmission electron microscopy, and related analytical techniques such as electron diffraction x-ray spectrometry (EDXS) and electron energy loss spectroscopy (EELS).