Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

Zistiť stav objednávky

Staňte sa súčasťou komunity milovníkov kníh z celého sveta a získajte hromadu výhod. Založiť účet zdarma

Doprava zadarmo s Packetou nad 59.99 €

Kuriér DPD 2.99 € Zberné miesto GLS 2.49 € SPS 3.99 € SPS Parcel Shop 2.99 € Packeta kurýr 3.99 € Pošta 3.99 € Zberné miesto DPD 2.99 € Kuriér GLS 3.99 € Packeta 2.99 €

Kontakt

Ako nakupovať

Pomoc

Môj účet

▸ Prázdny :-(

Doprava zdarma pre objednávky nad 59,99 € s Packetou a SPS Boxmi.

$Kniha High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D. Keith Bowen$

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 24622344
Price: 95.51 EUR
Availability: InStock
Author: D. Keith Bowen
ISBN: 9780367400637

D. Keith Bowen

Brian K. Tanner

Jazyk

Angličtina

Kniha Brožovaná

$Kniha High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D. Keith Bowen$

Libristo kód: 24622344

Nakladateľstvo Taylor & Francis Ltd, október 2019

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated... Celý popis

Libristo kód: 24622344

232 b

95.51 €

Skladom u dodávateľa Odosielame za 9-15 dní

30 dní na vrátenie tovaru

Zákazníci tiež kúpili

Wiederbewaffnung Deutschlands in den Jahren 1945-1958 und die Haltung der Evangelischen Kirche Lutz Hoeth

Brožovaná

26.75 €

Betriebswirtschaftliche Ausbildung und Internationales Personalmanagement Rolf Brühl

Brožovaná

51.79 €

El Enclave: Edición Especial Victor Garcia Montero

Brožovaná

11.50 €

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern tec